dt_ility
可検出性テスト
呼び出し手順
[k, [n [,U [,Sld ] ] ]]=dt_ility(Sl [,tol])
パラメータ
- Sl
線形システム (
syslin
リスト)- n
不可観測な部分空間の次元
- k
不安定かつ不可観測な部分空間の次元 (
k<=n
).- U
直交行列
- Sld
線形システム (
syslin
リスト)- tol
可制御性テストの閾値.
説明
状態空間表現の線形システム
sl
の可検出性テスト.
U
は基数で,
その最初のk
列にSl
の
不安定かつ不可検出な部分空間
((A,C)
の不可観測な部分空間と
A
の不安定な部分空間の共通集合)
が広がります.
可検出性は,k=0
を意味します.
Sld = (U'*A*U,U'*B,C*U,D)
は,
Sl=(A,B,C,D)
の"可検出な部分" を
以下のように表示します.
[*,*,*] U'*A*U = [0,*,*] [0,0,*] C*U = [0,0,*]
(A33,C3)
は可観測 (nx-n
次),
A22
は可安定,
( n-k
次) ,
A11
は不可安定 ( k
次)です.
例
Report an issue | ||
<< ctr_gram | Controllability Observability | obs_gram >> |